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翻译样例: 激光束感应电流法研究IJKLMN 电活性缺陷和焦平面器件的光电特性
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本文采用激光束感应电流技术,简称LBIC,既可作为研制焦平面器件工艺过程的监控及测量手段,又可以作为筛选材料中电活性缺陷的手段。本研究使用氖激光作为激发光源,对块状碲镉汞晶片、MBE薄膜晶片、光伏型红外碲镉汞焦平面器件和大面积的硅光伏器件进行了研究。在MCT晶片上测到由于电活性缺陷而产生的感应电流;而在MBE薄膜晶片上未测到感应电流;在光伏型红外碲镉汞焦平面器件和大面积的硅电器件上测量到周期分布的激光束感应电路信号。因此LBIC法用于判断材料中电活性缺陷是可行的;用于监控和测量红外焦平面器件的光电特性是十分有效的。

图1示出一个P-N结的通常光电流和激光束感应电流,通常的光电流是结上的C点和衬底上A点两端作欧姆电极输出,当激光束从一端扫向另一端时测出电流,而激光束感应电流是衬底一端上的H点与衬底另一端上的B点作为欧姆电极输出,当激光束从一端扫向另一端时测出激光束感应电流。激光束感应电流的产生除起因于通常的垂直于结的光伏效应外,还与平行于结的光伏效应有关,它是P-N结在局部非对称照明下所产生的,故此电流呈现正负双峰结构。

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